力德M3000是一款先进的磁随机存储器测试分析仪，磁性随机存储器MRAM兼具非易失、高速度、高密度、低功耗、抗辐射等各种优良特性，所以被认为是电子设备中的理想存储器。
作为一款先进的磁存储器测试仪，力德M3000不仅可测试STT-MRAM和SOT-MRAM的阻态、写入电压等常规电学特性，还可对写入误码率、击穿电压、耐久性、数据保持特性等关键的可靠性指标进行表征和数据分析，为您提供准确、便捷、高效的存储器测量。
此外，力德M3000可施加1纳秒内的脉宽，充分满足磁性存储器在实际电路应用中的测试需求。目前，力德M3000已服务于国内领先的磁存储器研发与制造机构，并广受好评。
